УДК 004.031.6
Саргсян В.К.
ПРОГРАММИРУЕМЫЕ ИНФРАСТРУКТУРЫ САМОТЕСТИРОВАНИЯ
Национальный исследовательский университет «МИЭТ» , Зеленоград, Россия, 4806-й пр., 5, 124498
UDC 004.031.6
Sargsyan V.K.
PROGRAMMABLE BUILT-IN SELF-TEST INFRASTRUCTURES
National Research University of Electronic Technology / MIET, Zelenograd, Russia, 4806, b. 5, 124498
В данной работе проведены исследования архитектурных решений схем самотестирования. Рассмотрены архитектурные решение схем самотестирования BIST(built-in self-test), которые дают возможность устанавливать новые алгортимы тестирования , а также отдельные блоки алгоритма.
Ключевые слова: самотестирование, программируемость, алгоритм тестирования, тестовая операция, тестoвый паттерн.
In this paper we studied architectural solutions of self-tested circuits. BIST architectural solutions are considered that allow to set new test algorithms, as well as the individual blocks of the test algorithm.
Key words: built-in self-test, programmability, test algorithm, test operation, background pattern.